成果信息
本發(fā)明公開了一種具有防堵塞功能的集成電路測試儀器,包括機(jī)殼、護(hù)墊和轉(zhuǎn)動(dòng)桿,所述機(jī)殼的一側(cè)表面設(shè)置有引線接口,所述引線接口的相鄰一側(cè)設(shè)置有測試口,其中,所述引線接口和測試口的外側(cè)設(shè)置有防塵蓋,所述連接槽遠(yuǎn)離凸柱的相鄰位置和機(jī)殼頂部的一側(cè)開設(shè)有卡槽,所述護(hù)墊通過卡條連接在卡槽內(nèi),所述轉(zhuǎn)動(dòng)桿貫穿連接在盤齒的內(nèi)部,所述轉(zhuǎn)動(dòng)桿伸出齒輪盒的外側(cè)一端連接進(jìn)支架內(nèi)部的螺紋孔中。該具有防堵寒功能的集成電路測試儀器設(shè)置有防塵蓋,通過轉(zhuǎn)動(dòng)機(jī)殼一側(cè)的防塵蓋,使得防塵蓋通過轉(zhuǎn)軸進(jìn)行旋轉(zhuǎn),當(dāng)防塵蓋將機(jī)殼一側(cè)的引線接口和測試口位置遮擋時(shí),使得防塵蓋將外界的灰塵等雜質(zhì)排除在外,從而防止接口位置受到堵塞。 )
背景介紹
本發(fā)明公開了一種具有防堵塞功能的集成電路測試儀器)
應(yīng)用前景
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