成果信息
針對(duì)以上問(wèn)題,本項(xiàng)目開(kāi)發(fā)可以為軟件與集成電路(IC)設(shè)計(jì)人員提供共享IC設(shè)計(jì)EDA工具及可復(fù)用IP庫(kù)服務(wù)的WEB平臺(tái)技術(shù)。包括開(kāi)發(fā)一套C語(yǔ)言下支持語(yǔ)句覆蓋、判定覆蓋、C-uses、P-uses等多種覆蓋標(biāo)準(zhǔn)的代碼覆蓋分析工具;不同EDA供應(yīng)商工具的共享調(diào)用;探索一種符合IC設(shè)計(jì)流程、滿足實(shí)際需求的項(xiàng)目管理機(jī)制,實(shí)現(xiàn)對(duì)IC設(shè)計(jì)項(xiàng)目的智能化管理與質(zhì)量控制;提出一種通用的軟件構(gòu)件及IP核表征方法,實(shí)現(xiàn)對(duì)軟件構(gòu)件及IP核的黑盒測(cè)試和驗(yàn)證,構(gòu)建高質(zhì)量可交易的IP資源庫(kù),并建立IP核的網(wǎng)上交易系統(tǒng)。 )
背景介紹
21世紀(jì)是電子信息產(chǎn)業(yè)迅速發(fā)展的時(shí)代,隨著生活、生產(chǎn)智能化的提高,人們已經(jīng)離不開(kāi)軟件和集成電路(IC)芯片產(chǎn)品;隨著互聯(lián)網(wǎng)技術(shù)的普及,國(guó)外的IC設(shè)計(jì)工具的提供商也紛紛提供基于WEB 的技術(shù)服務(wù)平臺(tái),但由于各EDA廠商之間存在著相互競(jìng)爭(zhēng)等問(wèn)題,無(wú)法提供一個(gè)統(tǒng)一集成的軟件測(cè)試平臺(tái)。)
應(yīng)用前景
此項(xiàng)目可滿足國(guó)內(nèi)所有的IC設(shè)計(jì)從業(yè)人員對(duì)本W(wǎng)EB-EDA技術(shù)平臺(tái)的需求,應(yīng)用范圍較廣,經(jīng)濟(jì)效益顯著。)